電源系統(tǒng)是整個電子設(shè)備的基石，一個電子設(shè)備通常需要一個或者數(shù)個電源單元才能支撐其運行，因此它決定了整個系統(tǒng)的完整性和可靠性。
在電源量產(chǎn)時，我們需要和各種器件離散性做“斗爭”，那么一個電源是否是穩(wěn)定的、魯棒的？在設(shè)計電源時，我們必須要對其性能做詳盡的測試和驗證。其中包括在動態(tài)負載條件下對電源進行穩(wěn)定性評價。
目錄
1、動態(tài)響應(yīng)測試在電源測試中的重要性
2、如何使用RIGOL的DL3000電子負載及配套儀器進行測試系統(tǒng)搭建
3、如何對測試結(jié)果進行特征分析
性能優(yōu)良的電源到底“優(yōu)良”在哪里？
一個設(shè)計優(yōu)良的電源設(shè)備，具有以下特性：
較好的負載調(diào)整率和較好的電源調(diào)整率
較好的負載動態(tài)響應(yīng)和電源動態(tài)響應(yīng)：恢復(fù)時間快，電壓跌落/過沖小
其他指標，如紋波，效率，啟動時間，輸入浪涌電流，功率因數(shù)等
何為負載動態(tài)響應(yīng)？
動態(tài)響應(yīng)性能，包含負載動態(tài)響應(yīng)和電源動態(tài)響應(yīng)，是電源非常重要的指標之一。
負載動態(tài)響應(yīng)指的是在恒壓模式下，繼輸出電流規(guī)定大小的階躍變化之后，輸出電壓恢復(fù)到規(guī)定百分數(shù)范圍內(nèi)的時間；或者在恒流模式下，針對輸出電壓規(guī)定大小的階躍變化，輸出電流恢復(fù)到規(guī)定百分比范圍的時間。在常見的電源應(yīng)用中，負載可能存在快速波動，此時能夠保證輸出電壓的穩(wěn)定是電源需要具備的性能之一，而動態(tài)響應(yīng)測試可以較好地評估電源內(nèi)部穩(wěn)壓控制的穩(wěn)定性。
搭建測試環(huán)境
-示波器(RIGOL全系列示波器)
-電子負載(DL3000系列)
-RP系列或PCA系列電流探頭(PCA系列電流探頭需搭配DS/MSO7000、MSO8000系列示波器使用)
-RP系列電壓探頭(如PVP2350)
-符合供電條件的電源
如何操作？
Step1 完成硬件系統(tǒng)連接
-將DUT的輸出端連接在DL3000電子負載的輸入端子上（注意電源和負載極性）
-將合適的①電壓探頭并聯(lián)在DUT輸出端，探頭連接到示波器的通道1
-將DUT輸入端與供電電源連接
-用電流探頭②卡在DUT輸出端的地線上，電流探頭連接到示波器的通道2
Step2 設(shè)定參數(shù)
-將DL3000電子負載設(shè)定為CC（定電流）模式后，按下前面板的[CON]按鈕即選擇Continual模式，此時屏幕上將會顯示設(shè)置向?qū)?，如下圖所示
-根據(jù)DUT的額定電流設(shè)定Range、A/B值和斜率、頻率
設(shè)置向?qū)疽?
-配置完成后點按[應(yīng)用]使設(shè)定值生效
-將示波器通道1（電壓探頭監(jiān)測通道）設(shè)定為AC耦合，垂直檔位調(diào)節(jié)到合適范圍（通常是50~100 mV/Div）
-將示波器電流探頭連接在通道2
-示波器的觸發(fā)通道選擇為通道2，觸發(fā)邊沿選擇為“上升沿觸發(fā)”，觸發(fā)模式選擇為“普通”模式。
參數(shù)設(shè)定要點
-A/B值：A值可以選定為DUT的額定電流；B值初始值可以設(shè)定為A值的80%，后續(xù)根據(jù)實際波形適當(dāng)調(diào)節(jié)B值
-斜率：斜率通常意味著從A值轉(zhuǎn)換到B值的電流斜率，斜率越高意味著激勵包含的頻率分量越高，因此建議選擇最大值
-頻率：通常來說1KHz 50%占空比作為初始參數(shù)是一個不錯的選擇。在后續(xù)測試中可以根據(jù)實際波形適當(dāng)提高/降低
Step3 開始測試
打開DUT供電電源輸出，對DUT上電后點按DL3000電子負載的[Tran]進入連續(xù)測試
適當(dāng)調(diào)節(jié)示波器
你將可以獲取到較為清晰的測試波形，上圖中通道2為電流探頭測量的電流波形，通道1為DUT輸出端子上的電壓波形。
打開示波器的平均采樣模式，可以獲得低噪聲的瞬態(tài)響應(yīng)測量曲線。
操作要點
如何對測試波形進行分析？
根據(jù)實際DUT測試，可能會存在左圖測試波形（嚴重振鈴的電壓波形）
可見此測試中DUT的輸出電壓在跳變過程中存在非常大的振鈴，此振蕩頻率通常在系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù)在180°交越點所對應(yīng)的頻率附近。這也意味著系統(tǒng)的相位裕度很小，對此振蕩頻率的阻尼較弱。
通過調(diào)整電路參數(shù)，可見響應(yīng)波形逐漸改善，直至最后為右圖所示的響應(yīng)波形，可見振蕩被快速阻尼，恢復(fù)時間也較為合理。此時系統(tǒng)的相位裕度已經(jīng)較大，可以滿足電源設(shè)計的需要。
相位裕度（頻域）和響應(yīng)波形（時域）存在一定的相關(guān)性，在右圖所示的測試波形中，相位裕度在50~60°左右，裕度較大。
如何對測試圖中的一些其他特征進行判別？
1）直流電壓臺階
在測試中可能會出現(xiàn)動態(tài)響應(yīng)A/B值所對應(yīng)的電壓不一致的情況，如下圖的紅色箭頭指示。此時應(yīng)該檢查電流負載端子（功率回路）和電壓采樣端子（采樣回路）的連接點是否正確，如果連接正確，則說明此電源電路有相對較差的負載調(diào)整率，需要針對性地排查，如測量系統(tǒng)的開環(huán)增益是否足夠大。
電壓臺階
2)較大的電壓跌落和過沖
在部分測試中，可能會觀測到具有過大的電壓過沖和跌落特征的波形，這種波形通常更容易出現(xiàn)在線性穩(wěn)壓電路中。
較大的電壓跌落和過沖(示意圖片)
分析：這種情況的原因通常指向電源的輸出濾波電容，電容的容值選取和整個反饋環(huán)路特性嚴重失配、電容的ESR特性劣化/虛焊、布線不合理可能都會導(dǎo)致此現(xiàn)象。一般來說，線性電源器件對輸出電容的容值要求更高。在負載電流迅速突變的情況下，如果輸出濾波電容的容值過小，導(dǎo)致電壓下降的速度遠高于反饋電路控制調(diào)整管動作的速度，將會在加載電流時帶來較大的電壓跌落。反之，將會在卸載電流時帶來較大的電壓過沖。
部分電源系統(tǒng)可能需要驅(qū)動一些特定的負載裝置，如MOSFET/IGBT驅(qū)動電路、閃光燈等裝置，其主要的特點是存在較大的負載突變，其存在時間較短的大功率狀態(tài)以及時間較長的空閑（低功率）狀態(tài)。由于占空比(Duty Cycle)較低,因此其平均功率較低，在電源設(shè)計時，可能會存在電容容量選擇不足的情況。對于這種電路，使用動態(tài)響應(yīng)測試功能可以非常直觀的觀察到電壓的變化，對設(shè)計會有很大的幫助。
總結(jié)
通過使用DL3000作為測試核心進行動態(tài)響應(yīng)測試，可以快速地完成對電源產(chǎn)品的性能評估。
與動態(tài)響應(yīng)測試類似的測試方式還有伯德圖（Bode Plot.）測試，兩者存在一定的差異——
可見動態(tài)響應(yīng)測試更傾向于定性測試，由于測試非常方便，便于整合進入ATE測試工裝中，因此非常適合在電源生產(chǎn)過程中進行在線測試。
由于DUT的類型較多，因此有必要根據(jù)實際需求選擇合適的儀器以備測試使用：
