光源作為一種基礎(chǔ)的設(shè)備，在光通信、激光雷達(dá)、激光切割、激光醫(yī)療等各行各業(yè)廣泛使用。在光源的研發(fā)、生產(chǎn)和測(cè)試過(guò)程中，面臨測(cè)試速度慢、邊模小信號(hào)尋找難、測(cè)試效率低等突出的問(wèn)題。為解決上述問(wèn)題，思儀科技的Ceyear 6362D光譜分析儀開(kāi)發(fā)了針對(duì)性的測(cè)試功能。

圖1 Ceyear 6362D光譜分析儀

1.解決測(cè)試速度的問(wèn)題

對(duì)于光源生產(chǎn)過(guò)程，往往需要更快的測(cè)試速度，來(lái)提高測(cè)試，生產(chǎn)效率，通常通過(guò)改變采樣點(diǎn)數(shù)，靈敏度，掃描速度等操作，當(dāng)Ceyear 6362D在“X2”速度模式下，單次掃描時(shí)間最快可達(dá)200ms，保證測(cè)試精度的同時(shí)，可以滿足光源生產(chǎn)線的高速測(cè)試需求，節(jié)省工時(shí)成本。

圖2 光譜儀參數(shù)設(shè)置界面

2.解決精準(zhǔn)測(cè)試問(wèn)題

在研發(fā)過(guò)程中，需要更精準(zhǔn)的測(cè)試，Ceyear 6362D在“HIGH3”靈敏度下，動(dòng)態(tài)范圍最高可達(dá)78dB，可測(cè)得-90dBm的光譜，能夠探測(cè)到功率更低的光信號(hào)，從而分辨出被淹沒(méi)的邊摸等小信號(hào)。

圖3 -90dBm光譜測(cè)試

3.提升測(cè)試效率的途徑

Ceyear 6362D提供多種自動(dòng)分析功能，例如DFB光源分析功能（如下圖中所示）、LED光源分析功能、FP光源分析功能等，一次自動(dòng)分析就可以得到多項(xiàng)激光器指標(biāo)。同時(shí)，相關(guān)參數(shù)和測(cè)試結(jié)果也支持通過(guò)LAN、GPIB遠(yuǎn)程控制，可以大大提高測(cè)試效率。

圖4 DFB一鍵分析

作為新一代、高性能近紅外光譜分析儀，Ceyear 6362D在大幅度提升測(cè)試效率的同時(shí)，測(cè)試分辨率、動(dòng)態(tài)范圍得到大幅度提升，更加滿足各類光源的測(cè)試分析需求，為用戶提供更好的測(cè)試體驗(yàn)。