春意盎然的上海，全球電子行業(yè)的目光再次聚焦于新國際博覽中心。2025慕尼黑上海電子展在此盛大啟幕，ADI 無疑是展會最受矚目的焦點之一。

面對工業(yè)自動化升級、汽車架構革新及智能連接普及帶來的嚴苛挑戰(zhàn)，ADI以一系列創(chuàng)新的現場演示，為智能駕駛、智慧座艙、工業(yè)數字化、過程自動化、機器人、電源管理及儀器儀表測量等前沿應用，提供克服系統(tǒng)級挑戰(zhàn)、加速創(chuàng)新落地的核心方案，展現了ADI深厚的技術積累和對市場趨勢的精準把握。

儀器儀表測量方案 驅動精密測量的技術前沿

隨著半導體工藝的不斷進步和無線通信頻率的持續(xù)攀升，以及新材料等領域的發(fā)展，對測試測量儀器的精度、速度、帶寬和集成度提出了新的要求。ADI在此領域展出的一系列高性能模塊和方案，幫助客戶解決棘手的測量難題。

面對日益復雜的射頻/微波系統(tǒng)測試需求，基于ADL5960的8端口VNA參考設計提供了緊湊型、低功耗的解決方案，能夠實現高達20GHz的精確S參數測量，滿足多端口器件表征的需求。

精準的信號源和采集是測試的基礎，ADMX100x采用專有數字預失真（DPD）算法，實現了極低的諧波失真（THD），可生成和測量高保真信號，適用于高端音頻、通信等測試場景。

在元器件表征、材料分析等領域，精確的阻抗測量不可或缺，精密阻抗測量分析模塊ADMX2001采用混合信號算法，具備微小電容變化檢測和高電阻值測量能力，可以滿足各類精密測試的需求。

源測量單元（SMU）是半導體測試的核心設備，ADMX3001集成了數字PID控制算法，可精確設置輸出電平并進行鉗位，同時提供和測量高壓下的電壓和電流，支持復雜的器件特性分析。

作為基礎測量儀器，數字萬用表的精度至關重要，ADI展示的七位半DMM方案，憑借高精度模擬前端和先進數字化架構，實現了小于1ppm非線性度的出色測量分辨率和精度，是校準實驗室和高端測試系統(tǒng)的理想選擇。

2025慕尼黑上海電子展熱力全開！ADI攜硬核技術點燃現場。同時，ADI 多位資深技術專家齊聚現場，圍繞汽車智能化、工業(yè)數字化、電機驅動、儀器儀表測量、人形機器人等熱門議題展開干貨分享，既有對行業(yè)趨勢的解讀，也有落地方案的解析，為到場觀眾呈現一場技術與思維的雙重盛宴。

精密儀器儀表方案，加快客戶產品上市

在當前快速發(fā)展的市場環(huán)境下，加速產品開發(fā)和上市周期對客戶至關重要。ADI深刻理解客戶面臨的挑戰(zhàn)，致力于提供超越單個芯片的完整信號鏈及系統(tǒng)級解決方案，ADI儀器儀表事業(yè)部高級市場經理姜海濤展示了ADI在儀器儀表領域為加速客戶開發(fā)進程而推出的四款核心解決方案。

首先是緊湊型阻抗測試分析模塊，該模塊集成了高性能硬件與復雜的校準、補償算法，提供了一個“即插即用”的系統(tǒng)級方案。用戶可輕松獲取從直流到10MHz寬頻率范圍的高精度阻抗測量結果，適用于多領域阻抗測量場景，包括電池、半導體器件、電阻、電容、電感等被動器件測量，顯著簡化了測試系統(tǒng)的集成與開發(fā)。

其次是超低失真信號源模塊 (ADMX1001/1002)。該方案基于業(yè)界領先的20位DAC，實現了極低的失真度和高穩(wěn)定性，1kHz時THD可達-130dBc。輸出帶寬覆蓋0-40kHz，并可通過DAQ方案擴展。作為一個系統(tǒng)級模塊，它為需要精密、干凈信號源的應用，如高精度ADC測試、音頻分析提供了便捷、高性能的選擇。

第三個是低延遲數據采集DAQ解決方案參考設計CN0584/5系列。該方案針對實時控制和硬件在環(huán) (HIL) 仿真等對延遲極度敏感的應用，實現了從模擬輸入采樣到模擬輸出復現端到端約200納秒的超低延遲，同時保證了信號的高保真度。方案提供多通道模擬輸入輸出，并集成保護功能。

最后面對半導體測試等領域對數字控制環(huán)路的SMU日益增長的需求，ADI推出了這款支持+/-100V電壓、+/-1A電流（多量程可選）、并可并聯擴展電流能力的四通道數字化SMU參考設計，它集成了ADI最新的高精度ADC、DAC及高壓放大器等關鍵器件，為客戶開發(fā)高性能SMU產品提供了一個可靠、可加速開發(fā)進程的起點。

總體而言，ADI通過提供這些高度集成、經過驗證的模塊化解決方案和參考設計，旨在降低客戶的設計門檻，縮短研發(fā)周期，助力其在競爭激烈的測試測量市場中贏得先機。

（本文摘錄自 ADI）