講座內(nèi)容簡介

微波芯片主要包括微波功率放大、低噪聲放大、混頻變頻、開關(guān)、濾波等單片或MMIC芯片。芯片的在片（On-Wafer）測試是芯片設(shè)計和應(yīng)用環(huán)節(jié)的重要步驟。

隨著國內(nèi)芯片需求擴大和第三代半導(dǎo)體技術(shù)的蓬勃發(fā)展，芯片的高頻、大信號、超寬帶、高線性等性能要求逐漸提高，尤其在芯片設(shè)計環(huán)節(jié)，準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)是突破上述技術(shù)的瓶頸問題之一。目前，微波芯片測試諸多難題正困擾著一線技術(shù)人員：在片測試系統(tǒng)平臺框架與儀器設(shè)備的互相兼容性不高、集成后的系統(tǒng)測試效率難以再提升、提高測試的關(guān)鍵技術(shù)難以突破……

電科思儀聚焦問題的解決而推出成熟的微波芯片在片測試解決方案。講座重點針對微波芯片設(shè)計環(huán)節(jié)，介紹解決方案組成和新一代核心儀器，同時分享典型的解決方案應(yīng)用案例。敬請期待！

講座嘉賓

楊保國

研究員、博士、微波毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀器測試專家

講座時間

2022年11月11日（周五） 15：00-16：00

講座預(yù)約

活動三重“福利”

1.幸運觀眾獎：講座中抽取幸運觀眾10位。

2.最佳互動獎：講座中最佳互動觀眾5位。